DB50/T 1807-2025 承压设备射线检测缺陷自动识别系统评价方法

重庆市地方标准DB50/T 1807-2025总结

1. ​​适用范围​​

• 适用于承压设备金属熔化焊焊接接头X射线底片缺陷自动识别系统的评价。
• γ射线及1Mev以上X射线检测图像可参照使用。

2. ​​核心术语与定义​​

• ​​缺陷自动识别系统​​：基于计算机视觉算法识别缺陷的计算机系统。
• ​​辅助评片（AssistDR）​​：系统辅助人工进行缺陷识别及评级。
• ​​自动评片（AutoDR）​​：系统自主完成缺陷识别及评级。
• ​​标准测试集​​：用于系统性能测试的数字底片集合及标注样本。
• ​​交并比（IOU）​​：判定缺陷标注与预测区域重叠度的指标（IOU≥0.1为有效识别）。

3. ​​评价流程​​

1. ​​标准测试集构建​​

   • ​​底片质量要求​​：
     • RT底片需满足NB/T 47013.2标准，数字化分辨率≥600dpi，16bit灰度。
     • DR/CR底片需符合NB/T 47013.11及NB/T 47013.14标准。
   • ​​测试集类型​​：
     • ​​双面焊测试集​​：包含裂纹、未熔合、未焊透、圆形缺陷、条形缺陷，缺陷总数≥500。
     • ​​单面焊测试集​​：额外增加内凹、咬边缺陷，缺陷总数≥500。
     • ​​无缺陷测试集​​：数量与缺陷测试集一致。
   • ​​标注样本​​：由3名RT II级人员独立标注，一致性验证后生成最终标注样本。

2. ​​测试与指标计算​​

   • ​​预测样本​​：将测试集输入系统生成预测结果。
   • ​​混淆矩阵​​：统计正检（TD）、误检（FD）、漏检（MD）、误报（FR）数量。
   • ​​核心指标​​：
     • ​​单类别缺陷识别精度​​：
       • 正检率（TDRn）= TDn/(TDn+FDn+MDn)
       • 误检率（FDRn）= FDn/(TDn+FDn+MDn)
       • 漏检率（MDRn）= MDn/(TDn+FDn+MDn)
       • 误报率（FRRn）= FRn/总误报数
     • ​​综合指标​​：
       • 重点关注缺陷识别率（KDR）：裂纹、未熔合、未焊透等关键缺陷的识别率。
       • 综合缺陷识别率（WDR）：所有缺陷的总体识别率。
       • 底片误报率（FRR）= 误报底片数/无缺陷测试集总数。

3. ​​系统分级与风险分析​​

   • ​​系统分级（L1-L4）​​：

     级别	KDR	WDR	TDR	FRR（自动焊/手工焊）
     L1	≥95%	≥92%	≥85%	≤8% / ≤10%
     L2	≥98%	≥95%	≥92%	≤8% / ≤10%
     L3	100%	≥98%	≥96%	≤8% / ≤10%
     L4	100%	100%	≥98%	≤3% / ≤4%

   • ​​风险分析​​：
     • ​​漏检风险​​：I类（影响合格性判定）、II类（不影响判定）。
     • ​​误检风险​​：I类（关键缺陷误判为一般）、II类（一般误判为关键）。
     • ​​误报风险​​：I类（误报率超限）、II类（误报率合规但需人工复核）。

4. ​​实施要求​​

• ​​人员资质​​：评价人员需持有RT(D) II级及以上证书。
• ​​系统功能​​：需支持缺陷识别、评级、图像处理（降噪、对比度调整等）及人工复核功能。
• ​​运行环境​​：硬件配置需满足系统处理需求，显示器符合NB/T 47013.11标准。
• ​​更新要求​​：系统更新后需重新评价。

5. ​​附录与记录​​

• ​​附录A​​：提供标准化评价记录表模板，记录测试数据、指标计算结果及风险等级。

6. ​​意义与价值​​

• 通过标准化测试集与量化指标，确保缺陷识别系统的客观性和可靠性。
• 风险分析帮助用户识别潜在问题，指导系统优化及实际应用中的风险管控。
• 适用于特种设备制造、检测机构及第三方评价，提升承压设备安全检测的智能化水平。