T/CNS 81-2022 电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法

本文件描述了采用质子对电荷耦合器件（CCD）进行位移损伤效应辐照试验的一般要求、试验方法和程序。
本文件适用于宇航用CCD位移损伤效应辐照试验。