YD/T 3944-2021 人工智能芯片基准测试评估方法
资料介绍
本文件规定了人工智能芯片基准测试框架、评测指标及评估方法,主要包括基本信息披露和技术测试。
本文件适用于芯片厂商或检测机构对具有人工智能算法加速能力的处理器或加速器的基准测试工作。
本文件适用于芯片厂商或检测机构对具有人工智能算法加速能力的处理器或加速器的基准测试工作。
相关资料
- YD/T 3199-2016 支持通信应用的北斗授时设备技术要求 含2024年第1号修改单
- YD/T 3330-2018 支持通信应用的北斗授时设备测试方法 含2024年第1号修改单
- YDB 170-2017 M2M技术要求(第一阶段)HTTP协议绑定
- YDB 171-2017 物联网感知层协议安全技术要求
- YDB 174-2017 基于物联网的电子健康监测系统框架及技术要求
- YDB 176-2017 泛在物联应用 电子健康与电子医疗 移动健康 总体需求
- YDB 177-2017 泛在物联应用 智能家居系统 测试方法
- YDB 178-2017 泛在物联应用 流程工业无线测控应用需求
- YDB 179-2017 移动应用软件商店 信息安全测试方法
- YDB 180-2017 基于超文本标记语言第5版(HTML5)的Web应用软件技术要求